高精度光学坐标测量仪

简要描述：高精度光学坐标测量仪μCMM是奥地利Bruker Alicona公司研发生产的集样品尺寸特性，位置，形状和粗糙度测量功能于一体的全程高精度测量系统。

  • 产品型号：μCMM
  • 更新时间：2023-06-02
  • 访  问  量：1540

μCMM高精度光学坐标测量仪的详细资料：

品牌Bruker alicona产地类别进口
应用领域石油,能源,交通

高精度光学坐标测量仪μCMM的突出特点：

. 高精度测量公差非常小的部件 
. μCMM是同类产品中精确很高的纯光学微坐标测量系统。 
. 用户将触觉坐标测量技术和光学表面测量技术的优势结合起来，只用一个传感器测量零件的尺寸、位置、形状和粗糙度。 
. μCMM提供了更高几何精度的光学三维测量，能够测量大部件上的小表面细节，并精确确定这些单独测量的相对位置。 
. 可测量表面的光谱包括所有常见的工业材料和复合材料，如塑料、PCD、CFRP、陶瓷、铬、硅。 
. 材料从哑光到抛光各种反光成分都可以测量。 
. 操作简单是通过单按钮解决方案，有一个集自动化和人体工程学控制元素特别设计的控制器。 
. 带线性驱动的空气轴承轴可实现无磨损使用和高精度、以及更快速测量。这也使得μCMM非常适合在生产中长期使用。

 

高精度光学坐标测量仪μCMM的技术参数：

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